光模块正在跨入800G/1.6T的崭新时代,光模块通道数量不断增加,CPO和硅光技术的发展也显著提高了器件密度。这为光电器件和硅光芯片的测试,如激光器和调制器的LIV/IV 扫描测试带来了更高的挑战,要求测试设备具备更高的通道密度、更小的体积、更快的测试速度和更高的测量精度。
挑战一:20路并行使用的SMU通道需要占用多少体积?
SMU(源测量单元,俗称源表)是一种精密电源仪器,兼具电压输出和测量以及电流输出和测量的功能。传统台式源表通道密度少,在多通道并行测试中体积庞大,空间利用率低。NI PXI系列源表模块适合激光器和调制器从实验室到量产的LIV/IV测试场景。单张板卡提供1/4/12/24个通道,搭配不同大小的2至18槽PXI机箱,大幅缩小体积,主要解决产线空间使用率和多路并行等问题。24通道源表模块更是将体积缩小至传统仪器的1/40,极大地提高了测试效率。
挑战二:控制总线响应缓慢,同步线缆,电源接线混乱复杂?
NI PXI总线控制源表模块响应速度快(*经NI实验室实测15-20ms),无需额外电源线供电。内置触发总线,轻松配置同步,省去接线、布线和调试麻烦。
PXI平台-高性能SMU源表
NI PXI平台提供高精度和高通道密度的SMU源表,可以满足硅光芯片和光电器件DC测试需求。结合配套的Optoelectronic Component Test Software,实现快速的测试开发和部署,加速产品上市时间。
PXI平台-其他电学与光学仪表
PXI平台同时支持丰富的光学仪器仪表,可覆盖硅光芯片的典型测项。通过进一步的集成搭建更紧凑、高效协同的光模块测试系统。
关于恩艾(NI)
作为全球自动化测试测量领域的领导者,NI开放的软件平台和丰富的硬件资源助力中国企业快速完成设计验证,帮助用户提升从实验室到生产的全流程效率,加快产品上市时间。
如需获取更多资料请长按识别二维码: