GR468快翻译完了，昨天在群里讨论老化的问题，有一句话是这么描述的，具体老化时间、参数设定是需要依据自己的产品实验室数据与实际工作数据进行数学建模提取参量，并随时根据现场应用数据进行不断的优化和更新。

今年阿里就提供了一组与可靠性相关的数据，刚好佐证昨天的聊天。把数字放出来看看。

一：激光器是光模块中故障率最高的器件。

阿里100G SR4光模块的故障率归类，VCSEL激光器失效占比91.94%

阿里100G CWDM4光模块中25G DFB失效率占比则高达95.24%

导致DFB比VCSEL的失效率更高，一方面与激光器芯片设计有关，另一方面和光模块工作温度有关。在阿里统计的光模块外壳实际温度的统计分布。

温度越高，故障率越高。

二、早期失效率很严重

阿里同时统计了光模块失效的时间点，第一批100G CWDM4光模块主要集中在第一年，亲们，这是可以通过在线老化来避免的。

昨天我在群里还说了一些，说，做可靠性/老化等等是为了保护厂家自己。就以这个为例，供应商承诺光模块寿命是5年或者8年，但是第一年就坏了一大批，你想想，客户肯定来找供应商罚钱/退货/停单的，这些是制造厂家的损失。

在产线不做老化，或老化时间不足，老化条件不合适等等，将来吃亏的是厂家自己。

第三、每一种产品或类型老化工艺设计不同

昨天群里说的，各家的老化条件不同，需要自己不断调整。为什么，同样的100G CWDM4，对于不同方案、芯片选型、制造工艺等区别，失效的表现也不同，我们产线有一个老化，目的剔除早期失效。

上一个类型，需要剔除的主要是等效工作一年的，下个类型需要剔除的是等效工作两年的，这意味要重新调整老化设定条件以及老化时间，以避免故障率高的产品流入客户那里去。

可靠性做实验，要知道随机失效的机制，耗损失效机制，以及失效率和寿命。这是可以抽样提取数字的。

另一个是需要百分百的产线老化，目的是剔除早期失效率。让发货 的光模块处于随机失效区间内。

光模块、器件和芯片的可靠性分析，是含在咱们的光模块技术解析系列中的，具体详询18140517646即可。