Y8T27 【译10】GR-468
3.2.8.2 空间均质性
上一节的响应度假定是一个常数，但实际上的响应度会在探测器的表面发生变化。这个变化，也就是缺乏空间均质性，需要在小的区域才是比较影响大的地方。在器件表面不同位置测试的相对于中心响应度归一化的值。
3.2.8.3 线性度
表征光电探测器响应的另一个重要参数是其总体线性度。使用一个已知的可变功率的光源作为输入，测量探测器在整个指定的动态范围内的电响应，然后绘制如图 所示。
在图中，光电流（红色）的波动被夸大了，并且图中还包括了一条实线，这条实线对应于下句中描述的直线，线性度定义为数据与通过原点和该点绘制的直线之间的最大偏差。而虚线则对应于偏离线性度
3.2.8.4 监控探测器光电流
用于光器件的监控探测器MPD，一般不需要像接收端探测器测试响应度，通常只需要测试激光器在额定输出功率时的监控光电流即可。
对于包括了TEC的激光器组件，TEC设置到正常的温度值进行MPD光电流测试就行。
3.2.8.5 暗电流
探测器的暗电流是在没有任何光输入时的电流，一般随反偏电压的增加而增加。暗电流是在大于正常工作的反偏电压条件下进行测试。
3.2.8.6 电容
在某些情况下，测试探测器在压力条件下结电容的劣化，是非常有用的。这在加反偏电压后和特定频率时的测试值，
3.2.8.7 截止频率
光电探测器的截止频率（匡，就是带宽）是从峰值电流下降到一半时的输入信号的调制频率，其中，通常，光电探测器设置在正常工作条件下(例如，电压、负载、输入光功率)进行测试。对于APD，增益通常设置为 10 ，然后使用激光器来测试。用于测试的激光器的带宽要大于被测器件的带宽。
3.2.8.8 击穿电压
探测器的击穿电压定义为引起暗电流突变激增到不可接受状态时的反向偏压。一般来说，它是通过测量偏置电压在其整个范围内(包括击穿区域)变化时的暗电流来确定的
3.2.8.9 过剩噪声
APD的过剩噪声因子F由以下表达式计算：
Vn是APD均方根输出噪声电压
q，电子电荷，常数
Iph（M=1）是单位增益时的光电流。
B，滤波器带宽
RL：负载电阻
3.2.9 接收机的特点
3.2.9.1 接收到的光功率级别
与接收光功率相关的主要参数
灵敏度：接收的达到指定误码率是的的最小平均光功率
过载：达到指定误码率的最大平均光功率
通常，灵敏度和过载以dBm为单位，另外用于测试这两个参数的参考发射机，要确定发射信号的中心波长、谱宽、消光比和脉冲形状是指标下限。
3.2.9.2 对接收光信号劣化的容限
本节中讨论的参数与接收机对接收的光信号劣化的（能有效恢复信息）能力有关。
光信号的劣化可能在发射端产生并通过光纤传输时产生的，通常，接收端对收到的光信号劣化的恢复能力取决于电芯片/电路，比如CDR等。
色散容限-接收端所能容忍的最大色散量
差分群时延容限-接收端所能容忍的差分群时延，通常是偏振模色散PMD引起的。
抖动容限-接收端所能容忍的最大抖动，这是一个频率函数。
最小速率与最大速率-接收端能接收和处理的最小信号比特率与最大比特率。
上面的三种情况，认为接收端能够接收的最差的信号程度，如果这三个值产生的功率代价（灵敏度的变化）小于1dB，（匡备注，这个值针对2004年的通信业）
当然，这个功率代价的产生，还存在一个速率阈值，当超过一个特定速率，接收端性能急剧下降。所以要规定信号的最大和最小速率，比如±20ppm
3.2.10 器件的物理特性
3.2.10.1 水汽含量与气密性
本节讨论的测试旨在验证气密光器件在制造过程中所包含的水分量是否限制在适当水平，以及光器件是否保持其密封性能(例如，在暴露于各种机械和环境应力后)。
在大多数情况下，这两个目标可通过专门为测量内部湿度或密封性而开发的单独测试来实现。然而，正如下面所讨论的，在其他情况下内部水分测试可以同时用于这两种目的。
3.2.10.1.1 内部水汽
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