数据中心光模块,CEI-224G各种高速调制器、探测器的技术讨论的热热闹闹的。
高速探测器,需要大带宽,对于200Gbps,选择PAM4,需要100GBd,极限带宽50GHz以上,三菱这次做了一个65GHz的探测器。
探测器还需要考虑信噪比,探测器的主要噪声是暗电流,也就是无信号光入射时探测器本身PN结的漏电流。
探测器用于光模块,而光模块要降低产业成本,就需要降低制造成本,那么增大光敏面,降低生产工艺难度,也是产业界考虑优先级很高的因素
探测器做为一个产品,还需要考虑可靠性和工作寿命。
三菱的选择了低成本路线,在这个基础上优化性能,提高可靠性。
波导型结构,一般设计性能要优于垂直入射结构。但产业考虑的不仅仅是性能,而是性价比。波导结构耦合难度较大,光敏面小,制造成本高。采用垂直入射,光敏面比波导型要大一些,有利于采用普通的耦合设备,快速找到最佳耦合点,制造成本降低。
垂直光路,有表面入射,以及背入射,就是通过InP衬底将光导入吸收层。背入射,是很多高速探测器的选择,有几个优点写过的,P电极可局部制作金属反射层,提高响应度,背向入射可以利用衬底来做更多工艺。
衬底上刻蚀透镜,InP对于光纤通信波段是透明的,且有100μm左右的厚度,充分利用这个衬底做集成透镜,等效提高光敏面积,进一步降低成本。
三菱选择背向入射且集成透镜。
垂直入射结构,暗电流包括了台面设计的表面扩散电流,以前写过多台阶刻蚀降低表面扩散电流,这次三菱通过选择性锌离子扩散制作P型Inp,对于台面结构做二次刻蚀,并通过Fe-InP做半绝缘异质掩埋,降低传统结构侧壁的扩散电流,大幅度降低暗电流,提高信噪比。
垂直入射结构的探测器,带宽受限于两个因素,一个是RC常数,另一个是吸收层厚度,吸收层增厚导致载流子渡越时间增大,降低带宽。
三菱,一是通过降低PN结的直径,直径越小,RC常数越小,带宽越大,且PN结降低后暗电流还进一步降低,可靠性也会增加,信噪比也会提高。
暗电流越小,可靠性越高。
对于如何优化灵敏度,提升响应度,也是反应探测器性能的一个重要维度,三菱做了两个优化,一是增厚有源层,二是局部金属取消欧姆接触,成分反射层,光在InP中的穿越速度远远大于光生载流子的渡越速度,让光进行二次反射,来提高响应度,是常规操作。
在合集里写过很多不同结构反射设计,环形的,金属镀膜的,光栅的....
小结一下:
降低暗电流,采取了BH异质掩埋结构降低侧壁暗电流,采用PN结减小降反偏低漏电流,-2V反偏电压下暗电流1pA,降低暗电流在性能上提高信噪比,还达到提高可靠性的目的。
提高带宽,采取了降低PN结电容,优化吸收层(减薄)降低载流子渡越时间,从而提高带宽。带宽达到65GHz,可用于200Gbps的PAM4编码。
提高响应度,优化灵敏度,设置金属反射层,响应度达到0.6A/W
降低生产成本,采取了垂直入射结构,并且选择垂直入射结构中的背向入射,集成透镜,将光敏面提高到40μm直径,可以选择低成本耦合设备,可以降低生产过程中的耦合时间。